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熱式氣(qì)體(tǐ)質量流量計恒功率法原理講解

作者: 榴莲视频下载(tiān)儀表 編輯: 榴莲视频下载小編 來源: 熱式氣體質量流量計廠家 發(fā)布日期: 2020.03.19
信(xìn)息摘要:
氣體質量流量計(jì)可以對氣(qì)體(tǐ)的(de)質量(liàng)流量進行精密測量和控製。它在多個領域的科研和生產中有著重要而廣泛的運用本次要介紹一種熱式質量流量計,它具有(yǒu)精度(dù)…

氣體(tǐ)質量流量計可以對氣體的質量流量進行精密測量和控製。它在多個領域的科研和生產中有著重要而廣泛的運用;本次(cì)要介紹一種熱式質量流量(liàng)計,它具有精(jīng)度高(gāo),重複性好,響應速度快,軟啟動,穩定可靠,工作壓力範圍寬等特點。操作使用起來方便,可以任意位置安裝,配合流量顯示儀或其他流量控製顯示儀使用,相對其他流量計(jì)來說,熱式質量(liàng)流量計能勝任大流量(liàng)和高溫介質(zhì)的測量工作要求。

一、恒功率法

恒功率法(溫度測量法(fǎ))是以(yǐ)恒定功率(lǜ)為鉑熱電阻(zǔ)提供熱量,使其加熱到高於氣體的溫度(dù),流體流動帶走鉑熱電阻表麵一部(bù)分熱量,流量越(yuè)大,溫度降越大(dà),測量(liàng)隨(suí)流體流量変化的溫度,可以反映氣體流量。有以下兩種實現方(fāng)法:

(1)隻對一隻鉑電阻加熱,由熱(rè)擴散原理測量溫差

原理(lǐ):與恒溫差式流量計的結構類似,在(zài)測量管路中同樣加入(rù)兩個金屬鉑電阻(zǔ),一個為用於測量被測(cè)流體溫度的測溫電阻,另一個為用於測量被(bèi)測流體速度的測速電阻。在加熱器上加上一(yī)個恒定的功率對測速鉑(bó)電阻加熱,流體在靜止時測(cè)速鉑電阻和測溫鉑電阻表麵溫度差△T21=Ts2-Ts1 ZUI大(dà),隨著介質的流(liú)動,兩個鉑電阻表麵溫(wēn)度(dù)差減小。流體的流量越大,兩隻鉑(bó)電阻的溫差越小。鉑電(diàn)阻連接在惠斯通電橋中,鉑(bó)電阻的溫度不同使鉑電阻的電阻呈現不同阻值(zhí),從而使電橋不平衡,通過檢測(cè)電橋(qiáo)的電壓差來反應流體流量。

熱式氣體質量流量計

該恒功率式質量流量計存在的問題(tí):若流體的密度為p,流速(sù)為μ,加熱鉑電阻(zǔ)被流體(tǐ)帶走的熱量為Q,測溫鉑電阻和測(cè)速鉑(bó)電阻的溫(wēn)度差為(wéi)△T21,則有關係式:Q/△T21=k1+k2(p・u)k3式中對於組分一定(dìng)的流體(tǐ),k1、k2、k3為常數在橫(héng)截當S的(de)管路中,質量流量qm=p・u・S。測量過程中,測速鉑電阻(zǔ)被電流加熱,在熱平衡狀態下,電流(liú)的加熱功率與測速鉑電阻被帶走的熱量處於平衡狀態,即Q=I²·Rs2。因此(cǐ)質量流量qm與Q/△T21成一一對應(yīng)的關係,可表(biǎo)示為:qm=f[I²·R32/△T21]當加熱電流不(bú)變,通過測出流體的溫差△T21計算流體的質量流(liú)量時,忽略了(le)測速鉑電阻Rs2隨溫度的變化,會造成誤差。

2)對兩隻對稱的鉑電阻進行加熱,由熱平衡原理計算溫度差。

傳感器的結構是把兩個全相同的鉑(bó)電阻對稱的固定在熱源的兩側(cè),放置在流(liú)體中。采用(yòng)一(yī)個恒流源(恒壓源)對熱(rè)源加熱,流體流動(dòng)使兩個鉑電(diàn)阻的溫度不同。鉑電阻連接在(zài)惠斯通電橋中(zhōng),鉑電阻的溫度不同使鉑電阻的電阻呈現不同阻值,從(cóng)而使電橋不平衡,通過檢測電橋(qiáo)的電壓來反應流體流量。

現從傳熱學角度對該傳感(gǎn)器原理作進一步的分析。假定流體(tǐ)為均勻分布(bù)的牛(niú)頓型流體,以一維(wéi)測量為例:如圖1所示,熱源R置於(yú)傳(chuán)感器基片的中(zhōng)心,在其兩邊對稱地放(fàng)置兩個完全相(xiàng)同的溫度(dù)檢測芯(xīn)片(薄膜式鉑電阻)S1和S2傳感器與流體之間的(de)熱交換主(zhǔ)要通過對流進行,熱源與溫度檢(jiǎn)測芯(xīn)片之間的熱交換可通過傳導和對流進行。

當流體流速為零,即當流體處於靜止狀態時,表麵附近的(de)流線場及主要由此產(chǎn)生的溫度場相對於(yú)熱源呈對稱分布。由於結構上的對(duì)稱性,通過基(jī)片熱傳導(dǎo)進行的熱(rè)交換相對於熱源始終是對稱的。此時(shí)感溫芯片的鉑(bó)電阻(zǔ)溫度滿足Ts1=Ts2,即溫差:△T21=Ts2-Ts1=0。當流體流動時,流體和鉑電阻之間主要為(wéi)對流換熱,由於局部對流換熱係數的(de)不同,基片表麵附近的流線場及相應的溫度場(chǎng)相對於中心熱源的分(fèn)布發生變化,導致傾向性的不對稱(chēng)分布。根據(jù)熱邊界層理論,可(kě)知,此(cǐ)時上遊溫度檢測芯片表麵冷卻速率高於下遊芯片表麵,即鉑電阻S1的換熱係數大於S2是換熱係數,所以Ts2Ts,溫差溫度差:△T21=Ts2-Ts1>0。且△T2的值隨流體流速的増大而增大。如果改(gǎi)變流體流向,△T21亦相應(yīng)改變符號利用熱平衡方程可以計算出因對流引起的芯片(piàn)表麵的溫度再分布,獲得溫度差與流速的關係式。

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