雷（léi）達液位計信號異常（cháng）的幹擾因素

    雷達液位計 是通（tōng）過向（xiàng）被測介質發射電磁波，發（fā）射後的電磁波遇到（dào）介質被反射（shè）回來，通過時間擴展技術原理，計（jì）算出電磁波發射和接收的（de）時（shí）間間隔，從而進一步推算出天線到被測（cè）介質表麵的距離。可見，雷（léi）達液位計能否順利發射出（chū）電信（xìn）號對於液位測量（liàng）就顯得頗為關鍵。但在我們日常工作中，信號被幹擾的現象時有發生。那麽，導（dǎo）致（zhì）雷（léi）達（dá）液位計信號異常的幹擾因（yīn）素都有哪些呢？

    通過對導致雷達液位計的信號異常的因素進行分（fèn）析發現，產生幹擾的原因有很多，幹擾源也多種多樣。但（dàn）總體而言可以分為兩類：一類是內部幹擾，另一（yī）類是外部幹擾（rǎo）。

    一、外部幹（gàn）擾

    1、天體、天電幹擾

    天體就是指太陽或是其他的恒星，因此（cǐ）天體幹擾指的就是它們發出（chū）的（de）電磁波對（duì）雷達液（yè）位計發出的（de）信號（hào）產生（shēng）了一定的幹擾。

    但對於天電這個術語，大家普遍感到陌生。其實，所謂天電，可以將（jiāng）其理解為由大氣、雷電等電離作（zuò）用，或是火山、地震等自然現象產生的電磁波對雷達液位計（jì）的信號產（chǎn）生的（de）幹擾。

    2、光幹擾

    光的幹擾主要在於半導體部件（jiàn）。在用來控製儀表的部（bù）件當中，多由半導體材料製成，而半（bàn）導體元件在受到光的影（yǐng）響後，其導（dǎo）電性能就（jiù）會（huì）改變（biàn），這樣一來，就會影響雷達液位計的正常使用。

    3、熱幹擾

    火電廠作（zuò）業過程中，其熱力設備會產生大量的熱量，這些熱量會引起周（zhōu）圍（wéi）儀器以（yǐ）及環境溫度的變化，這也就是我們所說的熱幹擾。這些幹擾會對雷達液位（wèi）計的（de）元件產（chǎn）生影響，進一步導致測（cè）量不精確等問題（tí）的出現。

    4、濕度幹擾

    當濕度升高，就會引起絕（jué）緣體電阻下降、電（diàn）介（jiè）質介電數增加、骨架蓬鬆、電阻增加，進而也就產生（shēng）漏電流（liú）增加（jiā）、電容量增加、電感器變化等。此外還（hái）會使膠質（zhì）變軟（ruǎn），測量精也會下降。

    5、機械幹擾（rǎo）

    所謂機械幹擾，是指由（yóu）於（yú）外（wài）部機器的大幅震動或衝擊（jī），影響到雷達液位計，使雷達液位計內部（bù）的一些元件同樣發生震動（dòng）甚至是移位、變形，也可能使儀表頭指針鬆動，使測量產生誤差（chà），對於這種情況我們通常加以隔板（bǎn）、減震彈簧等來緩解衝擊。

    6、化學幹擾

    化學幹擾通常是指一些具有腐蝕性的氣體，例如酸、堿等，這些氣體長時間的作用，不僅僅會（huì）損壞儀器及內部元件，還會與金屬作用導電，影響雷達液位計的正常工（gōng）作。

    二、內部幹（gàn）擾

    幹擾不（bú）僅僅來自於外部，也來自於雷達液位計內部。例（lì）如其中的導線、電源變壓器電子元件之間的電感、電容等所產生的幹擾，此外，內部元件還會產生噪聲（shēng）幹擾。如今，大部分的雷達液位計經改進後（hòu），由於采用了高頻率微波技術，使液位計的性能大為（wéi）改善（shàn），幹擾（rǎo）也隨之降低。